我第一份工作是在國內(nèi)某晶圓廠里做CVD工藝工程師，所以也接觸和使用過膜厚量測(cè)設(shè)備。當(dāng)時(shí)覺得光學(xué)膜厚量測(cè)的原理比較簡(jiǎn)單，技術(shù)難度不是很高但后來和行業(yè)專家交流以后，才知道真對(duì)各種類型的薄膜，要保證量測(cè)的精度，技術(shù)上也不是那么容易。尤其是下層薄膜也是透明膜時(shí)，薄膜間的界面的區(qū)分和處理也是難點(diǎn)...

所以今天就順手整理一個(gè)膜厚的量測(cè)設(shè)備供應(yīng)商數(shù)據(jù)：包含介質(zhì)膜和不透明金屬膜兩大類，四種技術(shù)路徑

以下為英文縮寫的名詞解釋：

XRR?:??X-ray Reflectivity?X射線反射率

XRF: ?X-ray Fluorescence?X射線熒光光譜分析

本文表格內(nèi)容的詳細(xì)數(shù)據(jù)（整合在全球晶圓量檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商數(shù)據(jù)文檔里）的原始文檔，我放到了知識(shí)星球的云盤上供會(huì)員使用。如果您對(duì)此類數(shù)據(jù)有興趣，歡迎加入我的知識(shí)星球后獲取 -- 文章最后有加入方式

以下為原始表格截圖：包含142家供應(yīng)商、49類設(shè)備信息

我收集了近十年的行業(yè)數(shù)據(jù)已經(jīng)覆蓋了八成以上半導(dǎo)體制造上游的供應(yīng)鏈鏈，還有大量的原創(chuàng)行業(yè)景氣度數(shù)據(jù)分析和研報(bào)?，F(xiàn)在所有數(shù)據(jù)原始文檔都貢獻(xiàn)出來，給你個(gè)一鍋端走的機(jī)會(huì)(云盤直接同步我電腦硬盤隨時(shí)更新)另外還有大量的線上半導(dǎo)體知識(shí)講座

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