二次元測量利用平面坐標(biāo)系進(jìn)行測量，主要適用于測量長度、寬度等二維參數(shù)；而三次元測量則利用空間直角坐標(biāo)系進(jìn)行測量，可測量長度、面積、體積等三維參數(shù)。因此，二次元和三次元測量的適用范圍以及測量精度都有所不同。

1.二次元測量儀器

二次元測量儀器主要包括平板投影儀、激光掃描測量儀等。平板投影儀利用光學(xué)原理將被測物品投影到平面上，再利用光學(xué)或機(jī)械手段測量其尺寸和位置等參數(shù)；激光掃描測量儀則通過發(fā)射線性或掃描激光束對(duì)被測物體進(jìn)行非接觸式測量，并據(jù)此生成三維模型。

2.三次元測量儀器

三次元測量儀器主要包括CMM（坐標(biāo)測量機(jī)）、3D掃描儀等。CMM利用xyz三軸移動(dòng)測頭對(duì)被測物體進(jìn)行點(diǎn)位、長度、角度等多項(xiàng)參數(shù)的測量，可實(shí)現(xiàn)高精度三次元測量；而3D掃描儀則通過發(fā)射條紋光或激光束掃描被測物體表面，根據(jù)反射光或散射光生成其三維模型。

3.總結(jié)

總之，二次元和三次元測量儀器各有優(yōu)劣，應(yīng)根據(jù)具體需要選擇適合的儀器進(jìn)行測量。盲目追求高級(jí)別的測量儀器并不一定能達(dá)到最好的測量效果，需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行選擇。