測(cè)量探頭的 “溫漂” 問(wèn)題,對(duì)于晶圓厚度測(cè)量的實(shí)際影響
?一、“溫漂” 現(xiàn)象的本質(zhì)剖析測(cè)量探頭的 “溫漂”,指的是由于環(huán)境溫度變化或探頭自身在工作過(guò)程中的發(fā)熱,導(dǎo)致探頭的物理特性發(fā)生改變,進(jìn)而使其測(cè)量精度出現(xiàn)偏差的現(xiàn)象。從原理上看,多數(shù)測(cè)量探頭基于電學(xué)或光學(xué)原理工作,例如電學(xué)探頭利用電信號(hào)的變化反映測(cè)量目標(biāo)的參數(shù),而溫度的波動(dòng)會(huì)影響電子元件的導(dǎo)電性、電容值等關(guān)鍵性能指標(biāo);光學(xué)探頭的光路系統(tǒng)受溫度影響,玻璃鏡片的折射率、光學(xué)元件的熱膨脹等因素都會(huì)使光線傳