作者:泰克科技 Andrea Vinci 高速脈沖測(cè)試是現(xiàn)代科學(xué)研究的前沿領(lǐng)域,廣泛應(yīng)用于高能物理探索中的光子多普勒測(cè)速(PDV)和寬帶激光測(cè)速(BLR)等領(lǐng)域。這些測(cè)試需要精確捕捉和分析微秒甚至納秒內(nèi)發(fā)生的事件,對(duì)精度要求極高。微小的測(cè)量誤差可能導(dǎo)致顯著差異,進(jìn)而造成實(shí)驗(yàn)延誤、研究費(fèi)用增加以及數(shù)據(jù)完整性受損。 高速脈沖測(cè)試面臨諸多挑戰(zhàn),包括數(shù)據(jù)采集速度、數(shù)據(jù)保真度、惡劣環(huán)境條件、空間限制、校準(zhǔn)與
英國Pickering公司作為生產(chǎn)用于電子測(cè)試及驗(yàn)證領(lǐng)域的信號(hào)開關(guān)與仿真解決方案的主要廠商,于今日公布了一套正式方案,用于保護(hù)客戶免受測(cè)試工程師在維護(hù)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)時(shí)面臨的最昂貴的挑戰(zhàn)之一 —— 產(chǎn)品淘汰。 “對(duì)于具有長(zhǎng)生命周期的關(guān)鍵任務(wù)產(chǎn)品的部件,在制造和設(shè)計(jì)了初始測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)十年后,仍需要進(jìn)行測(cè)試?!盤ickering公司的 CEO Keith Moore說,“當(dāng)儀器供應(yīng)商停止使用這些