• 開創(chuàng)性的5kV ESD MEMS開關(guān)技術(shù)了解一下

  解決大問題需要開創(chuàng)性的技術(shù)，機電繼電器早在電報問世之初就已存在，但沒有其他替代的開關(guān)技術(shù)可滿足所有市場需求——特別是對于測試和測量、通信、防務(wù)、醫(yī)療保健和消費類市場中智能性和互聯(lián)性更強的應(yīng)用需求。作為不斷增長的市場需求的一個例子，測試和測量終端用戶要求多標準測試解決方案的尺寸盡可能最小，在0 Hz/dc至數(shù)百GHz的頻率范圍內(nèi)需要實現(xiàn)較高并行測試。機電繼電器的帶寬窄、動作壽命有限、通道數(shù)有限以及封裝尺寸較大，因此對系統(tǒng)設(shè)計人員的限制日益增大。

  亞德諾半導(dǎo)體

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  2023/08/29

  MEMS開關(guān)

  
• 基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

  先進的數(shù)字處理器IC要求通過單獨的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設(shè)備(ATE)測試，以達到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。 圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn) 半導(dǎo)體市場在不斷發(fā)展，

  與非網(wǎng)編輯

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  2022/11/28

  ADI ATE

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