一、前言

由于需要使用到模擬門制作單片機(jī)的下載電路，下面對于手邊的模擬門CD405X的特性進(jìn)行測試，設(shè)計對應(yīng)的測試電路。查看一下它的導(dǎo)通電阻與工作電壓之間的關(guān)系。

二、測試電路

設(shè)計測試電路。兩個四選一模擬門通過兩個五芯端口引出，通過兩個設(shè)置端子改變 AB 邏輯電平。對于 禁止端電平也通過跳線端子進(jìn)行設(shè)置。下面設(shè)計PCB，適合一分鐘制板，一分鐘之后得到測試電路，焊接清洗之后進(jìn)行測試。

突然自己觀察，原來自己焊接的不是 CD4052，而是 CD4053，這個芯片是四個 二選一的模擬門。好吧，是自己的粗心大意了。下面重新按照CD4053設(shè)計測試電路進(jìn)行測試。

將電路修改為 CD4053，鋪設(shè)PCB，一分鐘之后獲得測試電路板。將三個通道的選擇邏輯電平設(shè)置為 低電平，芯片工作電壓為5V?？梢詼y量三個二選一模擬門的導(dǎo)通電阻大約為 200歐姆左右，將三個模擬門的選擇電平設(shè)置為高電平，中間管腳與另外一個管腳導(dǎo)通電阻也是大約200歐姆。

三、不同電壓與導(dǎo)通電阻

接下來，測量模擬門的導(dǎo)通電阻與工作電壓之間的關(guān)系。使用DH1766提供從 3.3V 到15V對應(yīng)的工作電壓。利用DM3068測量模擬門導(dǎo)通電阻。

從測量結(jié)果來看，芯片在3.3V就可以工作，只是導(dǎo)通電阻比較大，超過了350歐姆。隨著工作電壓增加，導(dǎo)通電阻下降。不知道為什么，在大約4.7V左右，有一個電阻的突變。說實在的，對于這個突變的測量結(jié)果，我現(xiàn)在認(rèn)為是自己所使用的DM3068數(shù)字萬用表有可能出現(xiàn)故障。因為 DM3068之前也出現(xiàn)的很多測的性能不穩(wěn)定的情況。后面，隨著工作電壓上升，模擬門的導(dǎo)通電阻比較平滑的下降。特別是，當(dāng)工作電壓超過13V，導(dǎo)通電阻小于 100歐姆了。

▲ 圖1.3.1 不同供電電壓對應(yīng)的導(dǎo)通電阻

??下面使用FLUKE45 數(shù)字萬用表重新測量模擬門的導(dǎo)通電阻與工作電壓之間的關(guān)系。結(jié)果顯示了連續(xù)光滑變化的電阻下降過程。由此，說明了前面所使用的 DM3068數(shù)字萬用表的確存在問題。

▲ 圖1.3.2 使用FLUKE45 測量的導(dǎo)通電阻

※ 總??結(jié) ※

本文測試了模擬門集成芯片的特性。它的導(dǎo)通電阻隨著工作電壓的升高而下降。不過在測試過程中，可以看到這款老舊的 FLUKE數(shù)字萬用表，給出了比DM3068更加準(zhǔn)確的數(shù)值。真是不測不知道，一側(cè)嚇一跳。

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