前言

鑒于 STM32WL33 是一顆新出的 Sub 1GHZ SOC 芯片，靈敏度的測試方法與第一代 Sub1Ghz（SPIRIT1）芯片、第二代 Sub 1Ghz（S2-LP）芯片差異比較大，在這里我整理了該文檔以備解惑用。

測試平臺

信號發(fā)生器與測試板通過 SMA 連接口以及 clock、data 線相連，信號發(fā)生器產(chǎn)生一定發(fā)射功率的 GFSK 無線信號，測試板通過 SMA 接口接收該 GFSK 信號，并通過 PB2(CLOCK)/PB1(DATA)回送給信號發(fā)生器，由信號發(fā)生器計算誤碼率，調(diào)整GFSK 無線信號的發(fā)射功率，直至誤碼率為 1%，此時設置的發(fā)射功率即為 BER（比特誤碼率）為 1%的靈敏度。

小結

本篇從測試環(huán)境的準備、測試系統(tǒng)框圖、測試步驟幾方面著手，給有相關儀表的客戶提供測試 STM32WL33 靈敏度的參考。