• 在CP測(cè)試中探針卡的選擇有哪些考慮因素

  在CP（Chip Probing）測(cè)試中，探卡的選擇是測(cè)試過(guò)程中一個(gè)重要步驟。電阻、電容和電感特性：這些參數(shù)會(huì)影響信號(hào)的完整性和測(cè)量的準(zhǔn)確性。需要確保探針卡的電性能能夠滿足芯片測(cè)試的要求，同時(shí)保持信號(hào)的穩(wěn)定性。

  老虎說(shuō)芯

  1919

  2024/11/05

  探針卡

  
• 一文讀懂探針卡的概念、組成、分類(lèi)以及應(yīng)用

  探針卡（Probe Card）在集成電路測(cè)試中起著至關(guān)重要的作用，尤其在晶圓測(cè)試（wafer test）環(huán)節(jié)，探針卡作為連接ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)和半導(dǎo)體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對(duì)其電學(xué)性能進(jìn)行初步測(cè)量和篩選。

  老虎說(shuō)芯

  5264

  2024/10/21

  晶圓測(cè)試 探針卡

  

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