• 在CP測試中探針卡的選擇有哪些考慮因素

  在CP（Chip Probing）測試中，探卡的選擇是測試過程中一個重要步驟。電阻、電容和電感特性：這些參數(shù)會影響信號的完整性和測量的準(zhǔn)確性。需要確保探針卡的電性能能夠滿足芯片測試的要求，同時保持信號的穩(wěn)定性。

  老虎說芯

  1918

  2024/11/05

  探針卡

  
• 一文讀懂探針卡的概念、組成、分類以及應(yīng)用

  探針卡（Probe Card）在集成電路測試中起著至關(guān)重要的作用，尤其在晶圓測試（wafer test）環(huán)節(jié)，探針卡作為連接ATE測試機臺和半導(dǎo)體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對其電學(xué)性能進(jìn)行初步測量和篩選。

  老虎說芯

  5260

  2024/10/21

  晶圓測試 探針卡

  

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