• 白光干涉中，通過樣品臺的移動，實現(xiàn)機械相移技術

  一、基本原理 在白光干涉儀中，光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準直后，通過分光棱鏡被分成兩束相干光：一束作為參考光，經(jīng)過固定的光路到達干涉儀的接收屏；另一束作為待測光，經(jīng)過樣品臺后被反射或透射，再與參考光相遇產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。干涉條紋的形成取決于兩束光的相位差，而相位差則與它們經(jīng)過的光程差有關。 通過移動樣品臺，可以改變待測光線經(jīng)過的路徑長度，從而改變光程差和相位差。這種相位調制會導致干涉條紋的移動或變化，通過測

  萬智光學

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  有源光纖網(wǎng)絡

  

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