• 晶振選型三大陷阱 工作溫度 電壓與負(fù)載電容的隱藏矛盾

  在電子電路設(shè)計(jì)中，晶振作為關(guān)鍵的頻率控制元件，其選型是否恰當(dāng)直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。然而，在晶振選型過程中，存在著一些容易被忽視的陷阱，尤其是工作溫度、電壓與負(fù)載電容之間的隱藏矛盾，若不加以重視，可能會(huì)導(dǎo)致電路無法正常工作，甚至造成嚴(yán)重的后果。 工作溫度：環(huán)境適應(yīng)的關(guān)鍵考驗(yàn) 晶振的工作溫度范圍是一個(gè)重要的參數(shù)，它決定了晶振在不同環(huán)境條件下能否穩(wěn)定工作。不同類型的晶振，其工作溫度范圍差異較

  晶發(fā)電子

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  晶振 電壓

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