• CP測試、FT測試、WAT測試之間的區(qū)別

  集成路測試中的CP（Chip Probing）、FT（Final Test）和WAT（Wafer Acceptance Test）是制造過程中不可或缺的步驟，它們有著不同的目標和測試對象。

  老虎說芯

  1.2萬

  2024/11/06

  晶圓 集成

  
• 高集成度

  高集成度（High Integration）是指在微電子技術(shù)領(lǐng)域中，器件或系統(tǒng)能夠整合更多的功能模塊或元件于一個單一芯片或設(shè)備中的能力。高集成度的發(fā)展代表著電子技術(shù)的快速進步和創(chuàng)新，使得電子產(chǎn)品變得更小巧、更智能、更功能豐富，同時也降低了成本、功耗和提高了性能。

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  集成

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