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  • 細數(shù)高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應(yīng)對策略,釋放PDV檢測潛力
    作者:泰克科技 Andrea Vinci 高速脈沖測試是現(xiàn)代科學(xué)研究的前沿領(lǐng)域,廣泛應(yīng)用于高能物理探索中的光子多普勒測速(PDV)和寬帶激光測速(BLR)等領(lǐng)域。這些測試需要精確捕捉和分析微秒甚至納秒內(nèi)發(fā)生的事件,對精度要求極高。微小的測量誤差可能導(dǎo)致顯著差異,進而造成實驗延誤、研究費用增加以及數(shù)據(jù)完整性受損。 高速脈沖測試面臨諸多挑戰(zhàn),包括數(shù)據(jù)采集速度、數(shù)據(jù)保真度、惡劣環(huán)境條件、空間限制、校準與
    細數(shù)高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應(yīng)對策略,釋放PDV檢測潛力
  • TGV轉(zhuǎn)換板需要做哪些可靠性測試?
    學(xué)員問:TGV轉(zhuǎn)換板在電鍍填充完金屬之后,需要怎樣驗證填充的質(zhì)量呢?
    TGV轉(zhuǎn)換板需要做哪些可靠性測試?
  • 芯片可測性設(shè)計中的Procedural Description Language
    PDL(Procedural Description Language,過程描述語言)是IEEE 1687(IJTAG)標準的一部分,用于描述對嵌入式器件的操作過程。它是一種高級命令語言,能夠指導(dǎo)器件如何生成測試模式,而不是直接描述測試模式本身。PDL的主要功能是提供一種標準化的方式來描述對嵌入式器件的操作,使得這些操作可以在不同層次的硬件結(jié)構(gòu)中被復(fù)用。
    芯片可測性設(shè)計中的Procedural Description Language
  • 集成電路制造的質(zhì)量管控鐵三角:CP、FT 與 WAT 測試解析
    在集成電路制造的復(fù)雜流程中,CP(Chip Probing)測試、FT(Final Test)測試和 WAT(Wafer Acceptance Test)測試構(gòu)成了質(zhì)量管控的關(guān)鍵體系。這三大測試環(huán)節(jié)分別作用于芯片生產(chǎn)的不同階段,擁有獨特的測試目標與對象,如同精密儀器的不同部件,共同保障著芯片產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性。
    集成電路制造的質(zhì)量管控鐵三角:CP、FT 與 WAT 測試解析
  • EMC測試半電波暗室墻壁和房頂上刺頭是啥?為啥地面沒貼呢?有什么用?
    半電波暗室又叫SAC,英文全稱是Semi-Anechoic Chamber,是電磁兼容EMC測試的“秘密基地”,墻壁上貼滿了方方塊塊的刺頭,看起來像個刺猬房。那為啥SAC的墻壁要貼這些東西?到底有什么用呢?
    EMC測試半電波暗室墻壁和房頂上刺頭是啥?為啥地面沒貼呢?有什么用?
  • EMC的接地原來是這樣
    “接地”一詞在不同場合有不同理解:一種是真正意義上的接地(也就是我們平常所說的接大地);另一種是接參考地(設(shè)備里的一個公共參考電位點)。設(shè)備接大地,是為了設(shè)備的安全以及與人員的安全。
    EMC的接地原來是這樣
  • 高逼真合成數(shù)據(jù)助力智駕“看得更準、學(xué)得更快”
    自動駕駛研發(fā)如何高效獲取海量訓(xùn)練數(shù)據(jù)?高逼真合成數(shù)據(jù)技術(shù)正在提供新解法。通過仿真平臺可生成多場景、多傳感器的精準標注數(shù)據(jù)。文章詳解如何構(gòu)建符合nuScenes標準的數(shù)據(jù)集,覆蓋復(fù)雜交通場景,為感知模型訓(xùn)練提供高效、可控的數(shù)據(jù)支持。
    高逼真合成數(shù)據(jù)助力智駕“看得更準、學(xué)得更快”
  • 從直流到高頻,半導(dǎo)體材料電特性參數(shù)的全面表征與測量
    從鍺晶體管到 5G 芯片,半導(dǎo)體材料的每一次突破都在重塑人類科技史。Si材料的規(guī)?;瘧?yīng)用開啟了信息時代,SiC/GaN等寬禁帶材料則推動新能源革命。這些進步的背后,材料測試技術(shù)始終扮演著 "科技眼睛" 的角色,它不僅能檢測材料導(dǎo)電性、絕緣性等基礎(chǔ)性能,更能揭示原子尺度的微觀奧秘,成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新的核心驅(qū)動力。
    從直流到高頻,半導(dǎo)體材料電特性參數(shù)的全面表征與測量
  • 深圳南柯電子 顯示器EMC電磁兼容性測試整改 測試到合規(guī)的指南
    在電子設(shè)備日益普及的今天,電磁兼容性(EMC)已成為衡量產(chǎn)品性能與合規(guī)性的核心指標之一。顯示器作為信息交互的關(guān)鍵終端,其EMC性能不僅影響設(shè)備自身的穩(wěn)定性,更關(guān)乎周邊電子設(shè)備的正常運行。
  • 接觸回路電阻測試儀用途及操作 凱迪正大KDHL 100
    武漢凱迪正大KDHL-100 回路電阻測試儀是針對電力系統(tǒng)中高壓開關(guān)接觸電阻測量設(shè)計的設(shè)備,采用直流 100A 測試電流(符合電力部標準要求),可準確測量 1—1999.9μΩ 的回路電阻與接觸電阻(分辨率 0.1μΩ,精度 0.5%),支持數(shù)字顯示。 KDHL-100 解決了常規(guī)電橋測試電流不足、受氧化層影響導(dǎo)致測量偏差的問題,適用于電力現(xiàn)場維修及開關(guān)廠測試。
  • 泡沫緩沖性能沖擊試驗機在泡棉測試中的應(yīng)用與技術(shù)解析
    泡棉廣泛應(yīng)用于包裝、汽車內(nèi)飾、電子防護等領(lǐng)域,其緩沖性能關(guān)乎產(chǎn)品安全。泡沫緩沖性能沖擊試驗機通過模擬實際沖擊場景,為泡棉性能研究、質(zhì)量把控及應(yīng)用優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù),在泡棉產(chǎn)業(yè)中作用重大。 泡棉特性與緩沖原理 泡棉特性 泡棉一般具有低密度、高彈性和良好柔韌性。常見的聚氨酯、聚乙烯、聚苯乙烯泡棉,因化學(xué)結(jié)構(gòu)與工藝不同各有特性。比如聚氨酯泡棉耐磨損、抗撕裂;聚乙烯泡棉防潮防水佳;聚苯乙烯泡棉成本低且有一定
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  • 信號完整性SI基礎(chǔ)知識介紹(一)
    下圖展示了電壓階躍是如何沿著印刷電路板(PCB)走線傳播的。在這個示例中,我們看到一條走線通過 PCB 板的介電材料與接地回流平面分隔開來。當信號沿著走線傳播時,變化的電場和磁場會跟隨波前。電磁波以 1.8×10? m/s的極快速度傳播,而電子從正極到負極的實際傳導(dǎo)速度卻非常慢,僅為 0.01m/s。
    信號完整性SI基礎(chǔ)知識介紹(一)
  • 學(xué)子專區(qū)論壇- ADALM2000實驗:脈寬調(diào)制
    作者:Antoniu Miclaus,系統(tǒng)應(yīng)用工程師 目標 在此實驗中,我們將研究脈寬調(diào)制及其在各種應(yīng)用中的使用情況。 脈寬調(diào)制(PWM)是一種將模擬信號編碼為單個數(shù)字位的方法。PWM信號由定義其行為的兩個主要分量組成:占空比和頻率。 它通過將消息編碼成脈沖信號來傳輸信息,可用于電機等電子設(shè)備的功率控制,也可用作光伏太陽能電池充電器的主要算法。 占空比描述了信號處于高電平(開啟)狀態(tài)的時間占完成一
    學(xué)子專區(qū)論壇- ADALM2000實驗:脈寬調(diào)制
  • 新型離散周期變換方法如何處理生理信號
    作者:Dennis E. Bahr博士,Bahr Management, Inc.總裁兼生物醫(yī)學(xué)工程師 Marc Smith,首席工程師 摘要 本文介紹了新型滑動離散周期變換(DPT)算法,可設(shè)計用于處理生理信號,尤其是脈搏血氧儀采集的光電容積脈搏波(PPG)信號。該算法采用正弦基函數(shù)進行周期域分析,可解決隨機噪聲和非平穩(wěn)數(shù)據(jù)等難題。DPT在MATLAB?中作為滑動變換實現(xiàn),結(jié)合了自相關(guān)與系綜平均
    新型離散周期變換方法如何處理生理信號
  • CMOS可靠性測試新趨勢:脈沖技術(shù)如何助力AI、5G、HPC?
    在半導(dǎo)體領(lǐng)域,隨著技術(shù)的不斷演進,對CMOS(互補金屬氧化物半導(dǎo)體)可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能(AI)、5G通信和高性能計算(HPC)等前沿技術(shù)的推動下,傳統(tǒng)的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術(shù)在CMOS可靠性測試中的應(yīng)用,以及它如何助力這些新興技術(shù)的發(fā)展。 引言 對于研究半導(dǎo)體電荷捕獲和退化行為而言,交流或脈沖應(yīng)力是傳統(tǒng)直流應(yīng)力測試的有力補充。在NBTI(負偏置溫度不穩(wěn)
    CMOS可靠性測試新趨勢:脈沖技術(shù)如何助力AI、5G、HPC?
  • 多模態(tài)自動駕駛混合渲染HRMAD:將NeRF和3DGS進行感知驗證和端到端AD測試
    多模態(tài)自動駕駛混合渲染HRMAD,融合NeRF與3DGS技術(shù),實現(xiàn)超10萬㎡場景重建,多傳感器實時輸出,仿真更接近真實數(shù)據(jù)!然而,如何用高保真仿真場景快速驗證自動駕駛算法?
    多模態(tài)自動駕駛混合渲染HRMAD:將NeRF和3DGS進行感知驗證和端到端AD測試
  • 發(fā)現(xiàn) SW 大小波,應(yīng)該聯(lián)想到什么?應(yīng)排查什么?
    大家在測試電源電路時,有時會碰到輸出電壓異常、輸出紋波過大等情況,此時通常會排查 SW 信號來判斷電路工作是否正常,異常狀況下 SW 波形會呈現(xiàn)大小波現(xiàn)象。 今天我們就來一起看下,SW 出現(xiàn)大小波的常見原因有哪些?應(yīng)該排查什么? 01 SW 大小波現(xiàn)象簡介 SW 代表 BUCK 電路中的開關(guān)節(jié)點。在標準工作條件下,SW 點的波形表現(xiàn)為固定頻率的方波。 圖1:正常工況下的SW波形 然而,在某些異常情
    發(fā)現(xiàn) SW 大小波,應(yīng)該聯(lián)想到什么?應(yīng)排查什么?
  • 輻射雜散發(fā)射測試、分析與整改
    歐盟CE認證測試中包含RSE(Radiation Spurious Emission)測試,屬于EMC測試的一部分,用于評估無線通信設(shè)備或發(fā)射設(shè)備在其工作頻率范圍外產(chǎn)生的不希望的電磁輻射。這些不希望的輻射被稱為"雜散",因為它們不在設(shè)備的預(yù)期工作頻率范圍內(nèi)。
    輻射雜散發(fā)射測試、分析與整改
  • 信號完整性的守護者:背鉆技術(shù)
    背鉆(Back Drilling)是高速PCB設(shè)計中的一項關(guān)鍵工藝技術(shù),特別在EDA(電子設(shè)計自動化)行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。隨著信號速率不斷提高,這項技術(shù)變得越來越重要。
    信號完整性的守護者:背鉆技術(shù)
  • 方案分享 | AVM合成數(shù)據(jù)仿真驗證方案
    AVM 合成數(shù)據(jù)仿真驗證技術(shù)為自動駕駛環(huán)境感知發(fā)展帶來助力,可借助仿真軟件配置傳感器、搭建環(huán)境、處理圖像,生成 AVM 合成數(shù)據(jù),有效加速算法驗證。然而,如何利用仿真軟件優(yōu)化傳感器外參與多場景驗證,顯著提升AVM算法表現(xiàn)?本文將分享如何利用自動駕駛仿真軟件配置仿真?zhèn)鞲衅髋c搭建仿真環(huán)境,并對腳本進行修改,優(yōu)化和驗證4個魚眼相機生成AVM(Around View Monitor)合成數(shù)據(jù)的流程。通過這一過程,一同深入體驗仿真軟件的應(yīng)用潛力!
    方案分享 | AVM合成數(shù)據(jù)仿真驗證方案

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